四探针薄膜电阻测试仪器 FTDZS-I 北京冠测精电仪器设备有限公司

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产品名称：四探针薄膜电阻测试仪器
产品型号：FTDZS-I
产品厂商：北京冠测
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简单介绍：

该仪器按照单晶硅物理测试方法国家标准,并参考美国 ASTM 标准而设计的，专用于测试半导体材料电阻率及方块电阻(薄层电阻)的专用仪器。仪器由主机、测试台、四探针探头、计算机等部分组成，测量数据既可由主机直接显示，亦可由计算机控制测试采集测试数据到计算机中加以分析，然后以表格，图形方式统计分析显示测试结果。

详情介绍：

测量半导电电阻率时：电阻率10^-4--10⁵Ω-cm；分辩率10^-6Ω-cm

测量其他（17C.COM一起草入口）电阻时：电阻10^-4--2X10⁵Ω，分辨率1uΩ

二、数码工作电压表： 1．示值 2 mV、20 mV、200 mV、2V 2．自动系统误差率 2mA档±(0.5%读数+8字)；20mV—2V挡±(0.5%读数+2字) 3．展示4 1/2 个数字展示0—19999具有着旋光性和过载保护自動展示，小数点、院校自動展示。三、恒流源： 1．功率伤害：10μA、100μA、1mA、10mA、100mA． 2. 直流电粗差：±(0.5%读数+2字)

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